上海光電測試系統性能特點 客戶至上 上海明策供應

 ST測試系統計算機化測試系統，半自動測試短波紅外相機的重要參數；1）ModeI：分辨率，MRC（蕞小可分辨對比度），MTF（調至傳遞函數），Distortion（畸變），FOV（視場），靈敏度，SNR（信噪比），NEI（噪聲等效輸入），FPN（固定圖形噪聲），non-uniformity（非均勻性）等；2）ModeII：MRTD（蕞小可分辨溫差，MDTD（蕞小可探測溫差），MTF（調至傳遞函數），NETD（噪聲等效溫差），FPN（固定圖形噪聲）等；3）ModeIII：（MeanDetectivity（平均探測率），NoiseEquivalentIrradiance（噪聲等效輻亮度），噪聲，動態范圍等。明策光電測試系統，提升鐘表制造業走時精確度。上海光電測試系統性能特點

TAIM熱瞄準鏡和熱像儀夾測試系統是DT系統的一個特殊版本，為測試典型的熱瞄準鏡或熱像儀夾而優化，可以快速、多功能和準確地測試。TAIM由DT120測試系統(用作圖像投影模塊和圖像分析模塊)，附加一組模塊：用于瞄準具測試的Picatinny導軌，兩個HEC相機用于捕捉圖像，AHEC適配環固定HEC相機的位置，YNAS10平臺可以調整相機與被測樣品之間的夾角，DPM屈光度量度計，AT720光學平臺，可選配其他分析軟件和HEC相機和可選DICAN距離調整裝置。上海德國進口光電測試系統INFRAMET SIM 熱成像光電測試系 統，精確把控汽車制造關鍵環節。

MS系列系統是Inframet主要測試系統，可測量多種紅外整機系統：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統等，進行系統測試和軸對準的測試。測試功能1.不同視場適用波段：可見光，近紅外，短波紅外，中波紅外和長波紅外；2.可測量多種紅外整機系統：熱像儀，可見光-近紅外相機，短波紅外相機、激光測距機和多傳感器測試系統等；

MS多波段整機測試系統測量不同系統的原理如下。測試熱像儀：圖像投影儀投射圖像到中波/長波范圍熱像儀，由計算機系統生成的圖像分析被檢測熱像儀。高精度的離軸反射式CDT平行光管，TCB差分黑體，以及一組紅外靶標用于投影。測試可見光/NIR相機：可見光/NIR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量電視相機。包括CDT反射式平行光管，可見光/NIR光源，和一組可見光靶標；

FUT靶標為棋盤型靶標，采用大面積、均勻溫度的輻射源，經表面加工后在高發射率背景下實現低發射率。FUT靶標尺寸較大，能夠完全填充被測融合成像系統的視野。利用熱像儀和可見光/近紅外成像傳感器對FUT靶標進行圖像采集，為有效的圖像融合提供了必要的數據。FUT靶標是一種均勻加熱的靶標，通常不能夠進行調節高溫度。操作較為簡單，插上電源加熱十幾分鐘穩定后就可進行使用。

測試功能：FUT靶標可以用于以下測試：?對準誤差（熱通道光軸相對于可見光通道光軸的角度）?旋轉誤差（熱通道圖像與可見通道圖像之間的角度）?熱成像通道圖像相對于可見成像通道圖像的二維空間位移圖（與另一通道中的同一像素相比，像素的位移量和位移方向的信息）?熱像儀分辨率測試 光電測試系統，保障文物修復科學精細。

MTB系列黑體是精密的面源黑體，旨在模擬中溫目標。使用一個薄的面加熱元件來控制散熱器溫度。黑體散熱器的***溫度可以調節在約50攝氏度到550攝氏度之間。發射器面積可以從50x50mm到500x500mm，具體取決于型號。應用MTB黑體可用于一系列可能的應用：1、在中溫范圍內測量熱像儀的精度（已知溫度的面源）。2、監控系統SWIR成像儀3、用于測試SWIR/MWIRFPAs的系統

至高溫度：典型的至高溫度為550℃。如果不需要這樣的溫度，則**高溫度可以降低到350℃，并且提供更好的熱均勻性。 光電技術，應用于鐵路維護，保障行車**。上海光電測試系統供應

光電系統應用于物流，提升包裹分揀準確性。上海光電測試系統性能特點

NVS夜視設備多功能測試系統是一個模塊化的測試系統，可測試長程夜視瞄準設備，同時支持測試短程夜視鏡及雙目夜視鏡。因此NVS測試系統是一個多功能測試系統。NVS測試系統采用模塊化設計，包括一組可切換的透射式光管、可移動的光源和一組靶標等模塊。NVS測試系統的測試過程是基于MIL系列標準的建議。NVS測量系統投影一個標準靶標的圖像到水平固定的被測夜視儀。通過調節兩個旋鈕，操作者可以控制透射到被測量夜視儀光的強度和靶標的類型。被測量器件生成一個畸變的標準靶標的圖像。通過人眼觀察或者借助測量工具如亮度計來評估這個畸變的圖像，得到被測量器件的重要參數。上海光電測試系統性能特點