2025-09-14 05:02:53
硅硅光芯片耦合測試系統及硅光耦合方法,其用以將從硅光源發出的硅光束耦合進入硅光纖,并可減少硅光束背向反射進入硅光源,也提供控制的發射條件以改善前向硅光耦合。硅光耦合系統包括至少一個平坦的表面,平坦的表面與硅光路相交叉的部分的至少一部分上設有若干擾動部。擾動部具有預選的橫向的寬度及高度以增加前向硅光耦合效率及減少硅光束從硅光纖的端面進入硅光源的背向反射。擾動部通過產生復合的硅光束形狀來改善前向硅光耦合,復合的硅光束形狀被預選成更好地匹配硅光纖多個硅光模式的空間和角度分布。硅光芯片耦合測試系統硅光芯片的好處:處理的應用領域廣。上海單模硅光芯片耦合測試系統多少錢
硅光芯片耦合測試系統系統的服務器為完成設備控制及自動測試應包含有自動化硅光芯片耦合測試系統服務端程序,可以使用于根據測試站請求信息分配測試設備,并自動切換光矩陣進行自動測試。服務器連接N個測試站、測試設備、光矩陣。其中N個測試站連接由于非占用式特性采用網口連接方式;測試設備包括可調激光器、偏振控制器和多通道光功率計,物理連接采用GPIB接口、串口或者USB接口;光矩陣連接采取串口。自動化硅光芯片耦合測試系統服務端程序包含三個功能模塊:多工位**占式通信、設備自動測試、測試指標運算;設備自動測試過程又包含如下三類:偏振態校準、存光及指標測試。上海震動硅光芯片耦合測試系統公司硅光芯片耦合測試系統硅光芯片的好處:片內具有快速RAM,通常可通過單獨的數據總線在兩塊中同時訪問。
硅光芯片耦合測試系統中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結構,具有模斑變換器;通過圖像系統,微調架將光纖端面與耦合波導的模斑變換器耦合對準,固定塊從側面緊挨光纖并固定在基板上;硅光芯片的輸入端和輸出端分別粘貼墊塊并支撐光纖未剝除涂覆層的部分;使用微調架將光纖端面與模斑變換器區域精確對準,調節至合適耦合間距后采用紫外膠將光纖分別與固定塊和墊塊粘接固定;本發明方案簡易可靠,工藝復雜度低,通用性好,適用于批量制作。
硅光芯片耦合測試系統系統的服務器為完成設備控制及自動測試應包含有自動化硅光芯片耦合測試系統服務端程序,用于根據測試站請求信息分配測試設備,并自動切換光矩陣進行自動測試。服務器連接N個測試站、測試設備、光矩陣。其中N個測試站連接由于非占用式特性采用網口連接方式;測試設備包括可調激光器、偏振控制器和多通道光功率計,物理連接采用GPIB接口、串口或者USB接口;光矩陣連接采取串口。自動化硅光芯片耦合測試系統服務端程序包含三個功能模塊:多工位**占式通信、設備自動測試、測試指標運算;設備自動測試過程又包含如下三類:偏振態校準、存光及指標測試。硅光芯片耦合測試系統優點:易于大規模測試。
硅光芯片耦合測試系統的激光器與硅光芯片耦合結構及其封裝結構和封裝方法,發散的高斯光束從激光器芯片出射,經過耦合透鏡進行聚焦;聚焦過程中光路經過隔離器進入反射棱鏡,經過反射棱鏡的發射,光路發生彎折并以一定的角度入射到硅光芯片的光柵耦合器上面,耦合進硅光芯片。本發明所提供的激光器與硅光芯片耦合結構,其無需使用超高精度的耦合對準設備,耦合過程易于實現,耦合效率更高,且研發成本較低;激光器與硅光芯片耦合封裝結構及其封裝方法,采用傳統TO工藝封裝光源,氣密性封裝,與現有技術相比,具有比較強的可生產性,比較高的可靠性,更低的成本,更高的耦合效率,適用于400G硅光大功率光源應用。硅光芯片的耦合端,用于連接激光器單元和硅光芯片。上海單模硅光芯片耦合測試系統多少錢
硅光芯片耦合測試系統優點:體積小。上海單模硅光芯片耦合測試系統多少錢
硅光芯片耦合測試系統的測試站包含自動硅光芯片耦合測試系統客戶端程序,其程序流程如下:首先向自動耦合臺發送耦合請求信息,并且信息包括待耦合芯片的通道號,然后根據自動耦合臺返回的相應反饋信息進入自動耦合等待掛起,直到收到自動耦合臺的耦合結束信息后向服務器發送測試請求信息,以進行光芯片自動指標測試。自動耦合臺包含輸入端、輸出端與中間軸三部分,其中輸入端與輸出端都是X、Y、Z三維電傳式自動反饋微調架,精度可達50nm,滿足光芯片耦合精度要求。特別的,為監控調光耦合功率,完成自動化耦合過程,測試站應連接一個PD光電二極管,以實時獲取當前光功率。上海單模硅光芯片耦合測試系統多少錢